X射線(xiàn)粉末衍射儀適用性很廣，通常用于測量粉末、單晶或多晶體等塊體材料，并擁有檢測快速、操作簡(jiǎn)單、數據處理方便等優(yōu)點(diǎn)。
X射線(xiàn)是一種電磁波,入射到晶體時(shí)在晶體中產(chǎn)生周期性變化的電磁場(chǎng)。引起原子中的電子和原子核振動(dòng),因原子核的質(zhì)量很大振動(dòng)忽略不計。振動(dòng)著(zhù)的電子是次生X射線(xiàn)的波源,其波長(cháng)、周相與入射光相同?；诰w結構的周期性,晶體中各個(gè)電子的散射波相互干涉相互疊加,稱(chēng)之為衍射。散射波周相一致相互加強的方向稱(chēng)衍射方向,產(chǎn)生衍射線(xiàn)。
X射線(xiàn)粉末衍射儀的應用介紹：
1，判斷物質(zhì)是否為晶體。
2，判斷是何種晶體物質(zhì)。
3，判斷物質(zhì)的晶型。
4，計算物質(zhì)結構的應力。
5，定量計算混合物質(zhì)的比例。
6，計算物質(zhì)晶體結構數據。
7，和其他專(zhuān)業(yè)相結合會(huì )有更廣泛的用途。
比如可以通過(guò)晶體結構來(lái)判斷物質(zhì)變形，變性，反應程度等
X射線(xiàn)粉末衍射儀使用的一些注意事項：
（1）固體樣品表面＞10×10mm，厚度在5μm以上，表面必須平整，可以用幾塊粘貼一起。
（2）對于片狀、圓拄狀樣品會(huì )存在嚴重的擇優(yōu)取向，衍射強度異常，需提供測試方向。
（3）對于測量金屬樣品的微觀(guān)應力（晶格畸變），測量殘余奧氏體，要求制備成金相樣品，并進(jìn)行普通拋光或電解拋光，消除表面應變層。
（4）粉末樣品要求磨成320目的粒度，直徑約40微米，重量大于5g。
歡迎來(lái)到