臺(tái)式電鏡SEM是一種強(qiáng)大的分析工具，它利用聚焦的電子束掃描樣品表面，通過(guò)檢測(cè)產(chǎn)生的二次電子和背散射電子信號(hào)來(lái)呈現(xiàn)樣品表面的高分辨率圖像。這種技術(shù)在材料科學(xué)、生物學(xué)、冶金學(xué)以及許多其他領(lǐng)域都得到了廣泛應(yīng)用。臺(tái)式電鏡SEM的選購(gòu)指南：-性能參數(shù)：選購(gòu)時(shí)，放大倍數(shù)和分辨率是核心考量因素。放大倍數(shù)直接影響到你能看到多少細(xì)節(jié)，而分辨率決定了這些細(xì)節(jié)的清晰度。當(dāng)前市場(chǎng)上的臺(tái)式SEM通常能提供從幾十倍到數(shù)十萬(wàn)倍的放大倍數(shù)，而分辨率可達(dá)到納米級(jí)。-電子源類(lèi)型：電子源是SEM的心臟部分，影響著...

穩(wěn)態(tài)瞬態(tài)熒光光譜儀結(jié)合了穩(wěn)態(tài)熒光光譜儀和瞬態(tài)熒光光譜儀的功能，能夠同時(shí)提供物質(zhì)在穩(wěn)態(tài)和瞬態(tài)條件下的熒光光譜信息。穩(wěn)態(tài)熒光光譜儀主要用于測(cè)量物質(zhì)在受激發(fā)光后進(jìn)入平衡狀態(tài)下的發(fā)光性質(zhì)，而瞬態(tài)熒光光譜儀則用于研究物質(zhì)在受激發(fā)光后，發(fā)光強(qiáng)度隨時(shí)間的變化過(guò)程。主要功能：1.穩(wěn)態(tài)熒光光譜測(cè)量激發(fā)譜:測(cè)量樣品在不同波長(zhǎng)激發(fā)光下的熒光強(qiáng)度。發(fā)射譜:測(cè)量樣品在特定波長(zhǎng)激發(fā)光下的熒光發(fā)射光譜。同步譜、EEM三維譜及動(dòng)態(tài)掃描:提供多維度的光譜信息，有助于深入研究樣品的熒光特性。2.瞬態(tài)熒光光譜測(cè)量...

臺(tái)式電鏡SEM，即掃描電子顯微鏡(ScanningElectronMicroscope)，是利用電子束掃描樣品表面，通過(guò)收集二次電子、背散射電子等信號(hào)來(lái)獲取樣品表面形貌、組成和結(jié)構(gòu)信息的顯微分析儀器，具有高分辨率、大景深、立體感強(qiáng)等特點(diǎn)，廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、生物學(xué)、地質(zhì)學(xué)、冶金學(xué)等領(lǐng)域?；竟ぷ髟硎牵弘娮訕尠l(fā)射出高速電子束，經(jīng)過(guò)電磁透鏡系統(tǒng)聚焦成直徑為納米級(jí)別的細(xì)束；電子束在掃描線圈的作用下按照一定規(guī)律掃描樣品表面，與樣品相互作用產(chǎn)生二次電子、背散射電子等信號(hào)；這些信號(hào)被探...

X射線粉末衍射儀利用具有一定發(fā)散度的特征X光束照射多晶平板樣品。當(dāng)X射線入射到晶體時(shí)，會(huì)在晶體中產(chǎn)生周期性變化的電磁場(chǎng)，引起原子中的電子振動(dòng)?；诰w結(jié)構(gòu)的周期性，晶體中各個(gè)電子的散射波會(huì)相互干涉、相互疊加，形成衍射。散射波周相一致并相互加強(qiáng)的方向被稱(chēng)為衍射方向，這些方向上的衍射線會(huì)被檢測(cè)并記錄下來(lái)。通過(guò)分析這些衍射線的強(qiáng)度和位置，可以推斷出晶體的結(jié)構(gòu)信息。主要由以下四大部分組成：1.X射線發(fā)生器：產(chǎn)生X射線束，作為入射光源。2.測(cè)角儀：用于精確控制樣品和探測(cè)器之間的角度，確...

巖礦分析系統(tǒng)是一種用于地質(zhì)樣品元素含量、元素形態(tài)和同位素比值分析的技術(shù)手段，它對(duì)于地球科學(xué)研究、礦產(chǎn)資源評(píng)估和環(huán)境監(jiān)測(cè)具有重要意義，優(yōu)勢(shì)特點(diǎn)體現(xiàn)在多個(gè)方面，這些特點(diǎn)不僅提高了分析的效率和準(zhǔn)確性，而且拓寬了地質(zhì)科學(xué)研究和應(yīng)用的領(lǐng)域。1.快速高效-自動(dòng)化程度高：通常具有高度自動(dòng)化的特點(diǎn)，能夠在一套軟件上完成所有操作，大大提高了測(cè)量效率。-多元素同時(shí)分析：能夠?qū)崿F(xiàn)高精度、高準(zhǔn)確度的多元素(包括同位素)同時(shí)分析，這在傳統(tǒng)方法中是難以達(dá)到的。2.準(zhǔn)確性和準(zhǔn)確度-低檢出限：能夠達(dá)到超低的...

巖礦分析是對(duì)巖石、礦物等天然或人工材料進(jìn)行化學(xué)成分和結(jié)構(gòu)特征的系統(tǒng)鑒定過(guò)程，它是地質(zhì)科學(xué)、環(huán)境科學(xué)以及材料科學(xué)中不可少的技術(shù)。巖礦分析系統(tǒng)的關(guān)鍵知識(shí)點(diǎn)：1.分析原理與技術(shù)-基本原理：巖礦分析基于物質(zhì)的物理和化學(xué)性質(zhì)，諸如密度、磁性、電性、光學(xué)特性以及化學(xué)反應(yīng)特性等來(lái)進(jìn)行。這些性質(zhì)能夠幫助科學(xué)家識(shí)別并定量巖石和礦物中的組分。-分析方法：常用的巖礦分析方法包括X射線衍射(XRD)、X射線熒光光譜(XRF)、原子吸收光譜(AAS)、質(zhì)譜分析(MS)等，這些技術(shù)能夠?qū)r石和礦物進(jìn)行準(zhǔn)...

超高壓XRD技術(shù)是一種利用X射線與物質(zhì)相互作用，通過(guò)分析衍射圖譜來(lái)研究物質(zhì)的物相和晶體結(jié)構(gòu)的技術(shù)。這種技術(shù)在材料科學(xué)、物理學(xué)、化學(xué)等領(lǐng)域具有廣泛的應(yīng)用。其優(yōu)勢(shì)特點(diǎn)主要體現(xiàn)在以下幾個(gè)方面：1.物相和晶體結(jié)構(gòu)的準(zhǔn)確測(cè)定-物質(zhì)組成分析：能夠準(zhǔn)確測(cè)定物質(zhì)的組成，包括晶體和非晶體的組成。-晶型識(shí)別：通過(guò)衍射圖譜可以識(shí)別不同的晶型，為材料的性質(zhì)研究提供基礎(chǔ)。-分子結(jié)構(gòu)分析：能夠分析分子內(nèi)的成鍵方式、分子的構(gòu)型和構(gòu)象，從而深入了解物質(zhì)的微觀結(jié)構(gòu)。2.高壓環(huán)境下的研究能力-高壓實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)：配備...