X射線(xiàn)衍射儀XRD是利用X射線(xiàn)在晶體物質(zhì)中的衍射效應進(jìn)行物質(zhì)結構分析的技術(shù)。每一種結晶物質(zhì)，都有其特定的晶體結構，包括點(diǎn)陣類(lèi)型、晶面間距等參數，用具有足夠能量的X射線(xiàn)照射試樣，試樣中的物質(zhì)受激發(fā)，會(huì )產(chǎn)生二次熒光X射線(xiàn)（標識X射線(xiàn)），晶體的晶面反射遵循布拉格定律。通過(guò)測定衍射角位置（峰位）可以進(jìn)行化合物的定性分析，測定譜線(xiàn)的積分強度（峰強度）可以進(jìn)行定量分析，而測定譜線(xiàn)強度隨角度的變化關(guān)系可進(jìn)行晶粒的大小和形狀的檢測。
X射線(xiàn)同無(wú)線(xiàn)電波、可見(jiàn)光、紫外線(xiàn)等一樣，本質(zhì)上都屬于電磁波，只是彼此之間占據不同的波長(cháng)范圍而已。X射線(xiàn)的波長(cháng)較短，大約在10-8～10-10cm之間。X射線(xiàn)分析儀器上通常使用的X射線(xiàn)源是X射線(xiàn)管，這是一種裝有陰陽(yáng)極的真空封閉管，在管子兩極間加上高電壓，陰極就會(huì )發(fā)射出高速電子流撞擊金屬陽(yáng)極靶，從而產(chǎn)生X射線(xiàn)。當X射線(xiàn)照射到晶體物質(zhì)上，由于晶體是由原子規則排列成的晶胞組成，這些規則排列的原子間距離與入射X射線(xiàn)波長(cháng)有相同數量級，故由不同原子散射的X射線(xiàn)相互干涉，在某些特殊方向上產(chǎn)生強X射線(xiàn)衍射，衍射線(xiàn)在空間分布的方位和強度，與晶體結構密切相關(guān)不同的晶體物質(zhì)具有自己*的衍射樣，這就是X射線(xiàn)衍射的基本原理。
當一個(gè)外來(lái)電子將K層的一個(gè)電子擊出成為自由電子（二次電子），這是原子就處于高能的不穩定狀態(tài)，必然自發(fā)地向穩態(tài)過(guò)渡。此時(shí)位于外層較高能量的L層電子可以躍遷到K層。能量差ΔE=EL-EK=hν將以X射線(xiàn)的形式放射出去，其波長(cháng)λ＝h/ΔE必然是個(gè)僅僅取決于原子序數的常數。這種由L→K的躍遷產(chǎn)生的X射線(xiàn)我們稱(chēng)為Kα輻射，同理還有Kβ輻射，Kγ輻射。不過(guò)應當知道離開(kāi)原子核越遠的軌道產(chǎn)生躍遷的幾率越小，所以高次輻射的強度也將越來(lái)越小。
歡迎來(lái)到