低溫環(huán)境XRD已成為了解溫度、氣氛或壓力對材料影響*的技術(shù)。除了與研究相關(guān)外，這些知識對于優(yōu)化技術(shù)流程和進(jìn)行工業(yè)質(zhì)量控制也至關(guān)重要。通過(guò)實(shí)時(shí)監測樣品在不同溫度條件下的結晶情況，分析其衍射圖譜可以得到不同溫度條件下的半峰寬、強度、晶面間距以及晶粒尺寸等信息，從而研究樣品的相變、結晶度變化規律。
低溫環(huán)境XRD采用環(huán)境降溫的方式，溫度探頭測試的為內層密封罩內低溫惰性氣體的溫度，當腔體內溫度達到平衡后，樣品表面的溫度近似與腔體內溫度相等，故此時(shí)監測的溫度為樣品表面溫度，測試的圖譜為該溫度下樣品相變的真實(shí)反映，能夠大大提高實(shí)驗的準確性，此項功能開(kāi)發(fā)后的溫度測試范圍為100-298K。
原位低溫測試裝置包括原位低溫測試臺和位移臺支撐部件。低溫測試臺和位移臺為獨立模塊，二者可快速拆卸、裝配，并可準確、重復定位。位移臺固定于X射線(xiàn)衍射儀底部平臺。位于位移臺上的平面可實(shí)現準確三維位移功能，從而優(yōu)化待測樣品空間位置。
什么是XRD衍射。晶體物質(zhì)基于其周期性受到X射線(xiàn)照射，對X射線(xiàn)的相干散射產(chǎn)生衍射現象，即光束出射時(shí)，沒(méi)有被發(fā)散但方向被改變了而其波長(cháng)保持不變的現象，這是晶態(tài)物質(zhì)的現象。晶體具有周期性、長(cháng)程的有序結構，其X射線(xiàn)衍射圖譜是晶體微結構的一種物理意義上的轉換，包含了晶體結構的全部信息。
低溫環(huán)境XRD特別適用于晶態(tài)物質(zhì)的物相分析。晶體的對稱(chēng)性、組成元素或基團存在差異，則他們的衍射譜圖在衍射峰數目、衍射峰位置、相對強度次序以至衍射峰的形狀上就會(huì )表現出一定的差異。因此，通過(guò)樣品的X射線(xiàn)衍射圖與已知的晶態(tài)物質(zhì)的X射線(xiàn)衍射譜圖的對比分析便可以完成樣品物相組成和結構的定性鑒定；通過(guò)對樣品衍射強度數據的分析計算，可以完成樣品物相組成的定量分析；通過(guò)Rietveld擬合還能夠測定材料中晶粒尺寸、晶胞參數、應變畸化（材料的織構）等等，應用面十分普遍、廣泛。
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