SEM掃描電鏡在使用時(shí)應需要以下事項

　　SEM掃描電鏡是一種用于放大并觀(guān)察物體表面結構的電子光學(xué)儀器。掃描電鏡由鏡筒、電子信號的收集和處理系統、電子信號的顯示和記錄系統、真空系統和電源系統等組成，具有放大倍數可調范圍寬、圖像分辨率高和景深大等特點(diǎn)。應用于生物、醫學(xué)、材料和化學(xué)等領(lǐng)域。
 

　　SEM掃描電鏡在使用時(shí)應需要以下事項：
 

　　1、將試樣置于載物臺墊片，調整粗/微調旋鈕進(jìn)行調焦，直到觀(guān)察到的圖像清晰為止；
 

　　2、調整載物臺位置，找到要觀(guān)察的視野，進(jìn)行分析；
 

　　3、掃描電鏡調焦時(shí)注意不要使物鏡碰到試樣，以免劃傷物鏡；
 

　　4、當載物臺墊片圓孔中心的位置遠離物鏡中心位置時(shí)不要切換物鏡，以免劃傷物鏡；
 

　　5、在做切換動(dòng)作時(shí)，動(dòng)作要輕，要到位，關(guān)機時(shí)要將亮度調到??；
 

　　6、亮度調整切忌忽大忽小，也不要過(guò)亮，影響燈泡的使用壽命，同時(shí)也有損視力；
 

　　7、非專(zhuān)業(yè)人員不要調整顯微鏡照明系統(燈絲位置燈)，以免影響成像質(zhì)量；
 

　　8、更換鹵素燈時(shí)要注意高溫，以免灼傷；注意不要用手直接接觸鹵素燈的玻璃體；
 

　　9、設備不使用時(shí)及時(shí)關(guān)掉電源。
 

　　SEM掃描電鏡可通過(guò)改變物鏡的透鏡系統人們可以直接放大物鏡的焦點(diǎn)的像，由此人們可以獲得電子衍射像，使用這個(gè)像可以分析樣本的晶體結構，在這種掃描電鏡中，圖像細節的對比度是由樣品的原子對電子束的散射形成的，由于電子需要穿過(guò)樣本，因此樣本必須薄。樣本的厚度可以從數納米到數微米不等。
 

　　原子量越高、電壓越低，樣本就必須越薄。樣品較薄或密度較低的部分，電子束散射較少，這樣就有較多的電子通過(guò)物鏡光欄，參與成像，在圖像中顯得較亮。反之，樣品中較厚或較密的部分，在圖像中則顯得較暗。如果樣品太厚或過(guò)密，則像的對比度就會(huì )惡化，甚至會(huì )因吸收電子束的能量而被損傷或破壞。