高溫環(huán)境XRD是研究物質(zhì)的物相和晶體結構的主要方法。當某物質(zhì)(晶體或非晶體)進(jìn)行衍射分析時(shí)，該物質(zhì)被X射線(xiàn)照射產(chǎn)生不同程度的衍射現象，物質(zhì)組成、晶型、分子內成鍵方式、分子的構型、構象等決定該物質(zhì)產(chǎn)生*的衍射圖譜。X射線(xiàn)衍射方法具有不損傷樣品、無(wú)污染、快捷、測量精度高、能得到有關(guān)晶體完整性的大量信息等優(yōu)點(diǎn)。
高溫環(huán)境XRD的原理：
x射線(xiàn)的波長(cháng)和晶體內部原子面之間的間距相近，晶體可以作為X射線(xiàn)的空間衍射光柵，即一束X射線(xiàn)照射到物體上時(shí)，受到物體中原子的散射，每個(gè)原子都產(chǎn)生散射波，這些波互相干涉，結果就產(chǎn)生衍射。衍射波疊加的結果使射線(xiàn)的強度在某些方向上加強，在其他方向上減弱。分析衍射結果，便可獲得晶體結構。
對于晶體材料，當待測晶體與入射束呈不同角度時(shí)，那些滿(mǎn)足布拉格衍射的晶面就會(huì )被檢測出來(lái)，體現在XRD圖譜上就是具有不同的衍射強度的衍射峰。對于非晶體材料，由于其結構不存在晶體結構中原子排列的長(cháng)程有序，只是在幾個(gè)原子范圍內存在著(zhù)短程有序，故非晶體材料的XRD圖譜為一些漫散射饅頭峰。
高溫環(huán)境XRD對材料學(xué)、物理學(xué)、化學(xué)、地質(zhì)、環(huán)境、納米材料、生物等領(lǐng)域來(lái)說(shuō)，X射線(xiàn)衍射儀都是物質(zhì)表征和質(zhì)量控制*方法。XRD能分析晶體材料諸如產(chǎn)業(yè)廢棄物、礦物、催化劑、功能材料等的相組成分析，大部分晶體物質(zhì)的定量、半定量分析；晶體物質(zhì)晶粒大小的計算；晶體物質(zhì)結晶度的計算等。
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