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JSM-IT500 鎢燈絲掃描電子顯微鏡

簡(jiǎn)要描述:JSM-IT500 鎢燈絲掃描電子顯微鏡是JEOL InTouchScope系列推出的新機型。
從選定興趣視野到生成報告,用于分析的軟件整合于一體,加快了作業(yè)速度!是一款無(wú)縫操作,使用方便的掃描電子顯微鏡。

  • 產(chǎn)品型號:JSM-IT500
  • 廠(chǎng)商性質(zhì):代理商
  • 更新時(shí)間:2020-07-09
  • 訪(fǎng)  問(wèn)  量:2859

詳細介紹

JSM-IT500 鎢燈絲掃描電子顯微鏡是JEOL InTouchScope系列的新機型。
從選定興趣視野到生成報告,用于分析的軟件整合于一體,加快了作業(yè)速度!是一款無(wú)縫操作,使用方便的掃描電子顯微鏡。

JSM-IT500 鎢燈絲掃描電子顯微鏡的特點(diǎn)及功能介紹:

3個(gè)關(guān)鍵點(diǎn) 使日常分析更迅速!更簡(jiǎn)便!

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關(guān)鍵點(diǎn)2 實(shí)時(shí)分析 (僅限于A(yíng)/LA)
在圖像觀(guān)察過(guò)程中,進(jìn)行EDS分析。
EDS譜圖顯示在觀(guān)察窗口中, 如果給感興趣的元素加上alert ,會(huì )更容易發(fā)現。

關(guān)鍵點(diǎn)3 數據集中管理軟件
數據的查看、再分析以及從SEM圖像到EDS分析的全部數據報告可以一鍵生成。用數據管理圖標或者從測試結束的數據列表中啟動(dòng)數據管理窗口并選擇數據,一鍵就能生成報告。

關(guān)鍵點(diǎn)1 Zeromag

從樣品座圖形和CCD圖像上可以尋找視野和分析位置。尋找視野非常輕松, 多視野連續分析的位置也很容易。

光學(xué)CCD圖像和SEM圖像的wan美結合和無(wú)縫操作使工作效率大大提高!

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利用Zeromag能簡(jiǎn)便自動(dòng)地進(jìn)行大區域SEM觀(guān)察和EDS分析

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利用Zeromag設置蒙太奇

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蒙太奇結果 4×4 (左:背散射電子成份像 右:Ca元素面分布圖)
樣品:混凝土 加速電壓:15kV 高真空模式 拍攝區域:約4mm×3mm

利用Zeromag很容易設定大面積的蒙太奇區域,有利于成像和觀(guān)察。蒙太奇功能在斷裂分析和大區域中識別異物等從大面積區域上獲取詳細信息時(shí)非常有效。

關(guān)鍵點(diǎn)2 實(shí)時(shí)分析    SEM和EDS一體化集成     

在SEM圖像觀(guān)察過(guò)程中,進(jìn)行EDS分析                      

利用Live Analysis功能,可在觀(guān)察窗口中進(jìn)行被觀(guān)察區域的EDS分析??梢院苋菀椎卣业阶约焊信d趣的元素,還能發(fā)現意料之外的元素。

圖片6.jpg

①顯示存在于測試區域中的主元素。能元素并顯示“Alert”。

②會(huì )顯示分析區域的特征X射線(xiàn)譜圖和自動(dòng)定性分析結果。

③一鍵點(diǎn)擊就可以在電鏡操作界面和詳細分析顯示界面間切換。

 

關(guān)鍵點(diǎn)3 數據集中管理軟件SMILE VIEW™ Lab     無(wú)縫創(chuàng )建報告                  

SMILE VIEW™ Lab是能集中管理與樣品臺位置聯(lián)動(dòng)的CCD圖像、SEM圖像、EDS分析結果等數據并快速生成報告的數據管理器。查看以前獲得的數據、重新分析,生成報告等都非常簡(jiǎn)便。

①顯示各個(gè)視野的名稱(chēng)。

圖片7.jpg

②能根據樣品名、創(chuàng )建日期和數據類(lèi)型等搜索數據。

圖片8.jpg

 

③在樣品座圖形或CCD圖像上顯示各個(gè)視野的位置。

④會(huì )列表顯示被選區域的元素圖、譜圖等的數據和定量分析結果等。

圖片9.jpg

技術(shù)參數

 

分辨率 高真空模式

3.0 nm (30 kV)  15.0 nm (1.0 kV)

低真空模式*1

4.0 nm (30 kV BED) 

圖像倍率

×5~×300,000
  (以128 mm × 96 mm 作為顯示尺寸規定放大倍率)

顯示倍率

×14~×839,724
  顯示器上的圖像倍率(以358 mm × 269 mm 作為顯示尺寸規定放大倍率)

電子槍

鎢燈絲 電子槍*自動(dòng)合軸

加速電壓

0.3kV~30kV

低真空壓力設定范圍※1 

10~650Pa

物鏡光闌

3檔  帶有XY微調功能

自動(dòng)功能

燈絲調整、電子槍合軸調整,聚焦、像散、襯度/亮度調整

大樣品尺寸

200 mm直徑×75 mm高度
  200 mm直徑×80 mm高度※選配件
  32 mm直徑×90 mm高度 ※選配件

樣品臺

大型全對中式
  X:125 mm Y:100 mm Z:80 mm
  傾斜:-10~90° 旋轉:360°

圖像無(wú)縫拼接功能

標配

顯示測試位置座標

直徑203 mm

標準菜譜

有(包括EDS條件 ※2)

圖像模式

二次電子像、REF像、成份像*1、形貌像*1、陰影像*1

獲取圖像的像素數

640x480  1,280x960 
  2,560x1920  5,120x3,840

OS

Microsoft®Windows®10 64bit 

顯示器

23寸觸摸屏

EDS   功能*2

譜圖分析、定性分析/定量分析、線(xiàn)分析(水平線(xiàn)分析、任意方向線(xiàn)分析)元素面分布、電子束追蹤等

測長(cháng)功能

有(兩點(diǎn)間距離、平行線(xiàn)間距離、角度、直徑等)

數據管理功能

SMILE VIEW™ Lab

生成報告功能

SMILE VIEW™ Lab

語(yǔ)言切換

可以在UI 上(日語(yǔ)/ 英語(yǔ))

抽真空系統

*自動(dòng) TMP:1   臺、RP:1臺或2臺※1 

備注:Windows10 為美國微軟公司在美國及其它國家的注冊商標或商標

主要選配件

背散射電子檢測器(BED) ※1

低真空二次電子檢測器(LSED)能譜儀(EDS)※2

波譜儀(WDS)

電子背散射衍射檢測器(EBSD)

加載互鎖真空室(預抽室)

樣品臺導航系統(SNS)

樣品室觀(guān)察系統(CS)

操作面板

3D測量軟件操作臺

※1 為JSM-IT500LV/LA的標配功能。
※2 為JSM-IT500LV/LA的標配功能。

 

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