既然是光源限制了顯微鏡的放大倍數和分辨率的發(fā)展，那么要想提高顯微鏡的放大倍數和分辨率，就應該更換波長(cháng)更短的光源。隨著(zhù)人們對電磁波的認識，人們了解到：在一定的電壓下電子束的波長(cháng)可以達到零點(diǎn)幾個(gè)納米，使用電子束做為光源，顯微鏡的分辨率就可能提高幾個(gè)數量級。日本電子電鏡是根據電子光學(xué)原理，用電子束和電子透鏡代替光束和光學(xué)透鏡，使物質(zhì)的細微結構在非常高的放大倍數下成像的儀器。電子源：發(fā)射并形成速度均勻的電子束；電磁透鏡：用來(lái)聚焦電子；真空裝置：保障顯微鏡內的真空狀態(tài)，使電子在其路徑上...

穩態(tài)瞬態(tài)熒光光譜儀可進(jìn)行穩態(tài)熒光光譜及熒光壽命測量，是物質(zhì)結構與成分分析的有力手段之一。廣泛應用于物理、化學(xué)、材料、生物、環(huán)保、醫藥等領(lǐng)域，開(kāi)展光致發(fā)光、化學(xué)發(fā)光以及生物發(fā)光等方面的研究。主要功能：1、穩態(tài)測試：激光譜和發(fā)射譜掃描、同步掃描、動(dòng)力學(xué)測試、激發(fā)-發(fā)射三維圖譜、等高線(xiàn)圖譜、絕對熒光量子產(chǎn)率測量、上轉換熒光測量、色度分析、近紅外光譜測量2、瞬態(tài)測試：熒光磷光壽命測量、單指數和多指數衰減、時(shí)間分辨發(fā)射光譜（TRES）、單體-激基締合物動(dòng)力學(xué)、溶劑弛豫動(dòng)力學(xué)。穩態(tài)瞬態(tài)熒...

場(chǎng)發(fā)射電鏡是電子顯微鏡的一種。廣泛用于生物學(xué)、醫學(xué)、金屬材料、高分子材料、化工原料、地質(zhì)礦物、商品檢驗、產(chǎn)品生產(chǎn)質(zhì)量控制、寶石鑒定、考古和文物鑒定及公安刑偵物證分析?？梢杂^(guān)察和檢測非均相有機材料、無(wú)機材料及在上述微米、納米級樣品的表面特征。場(chǎng)發(fā)射分熱場(chǎng)和冷場(chǎng)，共性是分辨率高。熱場(chǎng)的束流大些，適合進(jìn)行分析，但維護成本相對較高，維護要求高。冷場(chǎng)做表面形貌觀(guān)測是適合的，相對而言維護成本低些，維護要求不算高。冷熱場(chǎng)發(fā)射電鏡有哪些區別？1、適用范圍不同。冷場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡是一種用于材料科...

傳統煤巖組分測試采用人眼識別和手工測試相結合的測試方法，存在測試效率低、操作人員易疲勞、煤巖組分識別主觀(guān)性強、測試過(guò)程不可追溯、測試人員鑒定水平提高慢、測試結果難以走向實(shí)際應用等問(wèn)題。以光度計為基礎的自動(dòng)測試僅能獲取反射率參數，因而也僅能利用反射率進(jìn)行組分識別，忽略了樣品的均勻程度、各向異性、光照條件及焦距均對測試所造成的較大影響。煤巖分析系統基于數字圖像處理技術(shù)（DIP技術(shù)），測試圖像可存儲、測試結果可追溯，屬于真正的圖像分析法，能得到測點(diǎn)位置、組分形態(tài)學(xué)或幾何學(xué)參數，具有...

原子力顯微鏡是一種可用來(lái)研究包括絕緣體在內的固體材料表面結構的分析儀器。它通過(guò)檢測待測樣品表面和一個(gè)微型力敏感元件之間的極微弱的原子間相互作用力來(lái)研究物質(zhì)的表面結構及性質(zhì)。將一對微弱力敏感的微懸臂一端固定，另一端的微小針尖接近樣品，這時(shí)它將與其相互作用，作用力將使得微懸臂發(fā)生形變或運動(dòng)狀態(tài)發(fā)生變化。掃描樣品時(shí)，利用傳感器檢測這些變化，就可獲得作用力分布信息，從而以納米級分辨率獲得表面形貌結構信息及表面粗糙度信息。優(yōu)點(diǎn)：相對于掃描電子顯微鏡，原子力顯微鏡具有許多優(yōu)點(diǎn)。不同于電子...

單頻激光器，即單縱模激光器，它的特點(diǎn)是輸出的激光模式既滿(mǎn)足單橫模又滿(mǎn)足單縱模，其諧振腔內部只有單一縱模進(jìn)行震蕩，并且輸出光強呈現高斯分布。除了激光本身良好的單色性和方向性外，單頻激光器擁有普通激光器難以達到的相干長(cháng)度長(cháng)、譜線(xiàn)寬度窄的特點(diǎn)。目前，單頻激光器主要用于分布式光纖聲波傳感系統、周界安全、用于相干激光雷達系統實(shí)現高精度的成像、速度和距離的遙感探測。此外，石油和天然氣勘探系統、管道監控、氣體泄漏檢測、冷原子物理、空間激光通信以及微波光子學(xué)等領(lǐng)域，單頻激光器也將發(fā)揮重要作用...

SEM掃描電鏡是利用電子束代替可見(jiàn)光作為探針，利用電磁透鏡代替光學(xué)透鏡聚集和控制電子束，聚集電子束在樣品上掃描，激發(fā)某種物理信號來(lái)調制一個(gè)同步掃描的顯像管在相應位置的亮度而成像。SEM的電子槍發(fā)出的電子束經(jīng)過(guò)柵極靜電聚焦成點(diǎn)光源，然后在加速電壓的作用下經(jīng)過(guò)光學(xué)電子系統匯聚成直徑幾納米的電子束聚焦到樣品的表面，在末級透鏡上掃描線(xiàn)圈的作用下，電子束在樣品的表面掃描。由于高能電子束與試樣物質(zhì)發(fā)生相互作用產(chǎn)生各種信號，如二次電子、背散射電子、吸收電子、X射線(xiàn)、俄歇電子等，經(jīng)接收器、放...