掃描電子顯微鏡（SEM）利用二次電子信號成像來(lái)觀(guān)察樣品的表面形態(tài)，在巖土、石墨、陶瓷及納米材料等的研究上有廣泛應用。SEM在高分子中的常見(jiàn)應用：（1）觀(guān)察高聚物的形態(tài)和結構；（2）觀(guān)察結晶高聚物的晶態(tài)結構；（3）研究材料共混相容性；（4）觀(guān)察高分子納米材料結構；（5）表征高分子材料的降解性；（6）研究高分子材料的生物相容性；（7）研究多孔材料表面或斷面的孔特征。和光學(xué)顯微鏡及透射電鏡相比，掃描電鏡具有以下特點(diǎn)：(1)能夠直接觀(guān)察樣品表面的結構，樣品的尺寸可大至120mm×80...

巖礦的成分測定與分析是地質(zhì)工作的一個(gè)重要組成部分，它的研究對象主要是天然礦產(chǎn)，如巖石、礦物等；主要任務(wù)是利用一些技術(shù)手段(儀器分析、化學(xué)分析等)，對礦物巖石的成分在不同賦存狀態(tài)下的含量及其化學(xué)組成進(jìn)行測定與分析。巖礦成分的測定與分析工作具有重要的意義，如何快速準確的發(fā)現巖礦并給與正確的評價(jià)，是廣大地質(zhì)工作者的重要任務(wù)?？梢哉f(shuō)，巖礦成分的測定與分析工作與我國的社會(huì )主義現代化建設有著(zhù)密不可分的聯(lián)系。巖礦分析系統是一類(lèi)能使物體離子化，并通過(guò)適當的電場(chǎng)、磁場(chǎng)將它們按質(zhì)荷比分離、檢測分...

煤巖分析系統是以應用煤巖學(xué)理論為基礎，可測定多個(gè)應用煤巖學(xué)指標，為合理優(yōu)化配煤提供了有力的數據支撐，是入廠(chǎng)煤檢驗和優(yōu)化煉焦配煤技術(shù)的有效手段！近年來(lái)，我國國民經(jīng)濟的持續高速發(fā)展刺激了對鋼鐵的需求，同時(shí)也拉動(dòng)了煉焦生產(chǎn)的高速度發(fā)展。焦炭產(chǎn)能的快速擴張導致煉焦煤供應緊張，煉焦煤價(jià)格大幅度升高，又由于高爐大型化、噴吹煤粉等技術(shù)的應用，對焦炭質(zhì)量提出了更高的要求，致使煉焦煤供應更加緊張。同時(shí)，由于焦炭產(chǎn)能過(guò)剩，焦炭?jì)r(jià)格低迷。焦化行業(yè)面臨著(zhù)煤炭資源供應緊張和經(jīng)濟效益低下的雙重壓力，如何...

掃描電鏡全稱(chēng)為掃描電子顯微鏡，由于它具有制樣簡(jiǎn)單、放大倍數可調范圍寬、圖像的分辨率高、景深大等特點(diǎn)，故被廣泛地應用于化學(xué)、生物、醫學(xué)、冶金、材料、半導體制造、微電路檢查等各個(gè)研究領(lǐng)域和工業(yè)部門(mén)。工作原理：掃描電鏡是對樣品表面形態(tài)進(jìn)行測試的一種大型儀器。當具有一定能量的入射電子束轟擊樣品表面時(shí)，電子與元素的原子核及外層電子發(fā)生單次或多次彈性與非彈性碰撞，一些電子被反射出樣品表面，而其余的電子則滲入樣品中，逐漸失去其動(dòng)能，最后停止運動(dòng)，并被樣品吸收。在此過(guò)程中有99%以上的入射電...

掃描電子顯微鏡(SEM)是一種介于透射電子顯微鏡和光學(xué)顯微鏡之間的一種觀(guān)察手段。其利用聚焦的很窄的高能電子束來(lái)掃描樣品,通過(guò)光束與物質(zhì)間的相互作用,來(lái)激發(fā)各種物理信息,對這些信息收集、放大、再成像以達到對物質(zhì)微觀(guān)形貌表征的目的。掃描電鏡具有景深大、分辨率高,成像直觀(guān)、立體感強、放大倍數范圍寬以及待測樣品可在三維空間內進(jìn)行旋轉和傾斜等特點(diǎn)。另外具有可測樣品種類(lèi)豐富,幾乎不損傷和污染原始樣品以及可同時(shí)獲得形貌、結構、成分和結晶學(xué)信息等優(yōu)點(diǎn)。掃描電鏡的主要結構：電子光學(xué)系統：產(chǎn)生高...

日本電子電鏡是一種用途廣泛的多功能儀器，具有很多*的性能，重要特點(diǎn)是景深大，圖像富立體感，具有三維形態(tài)。它可以進(jìn)行三維形貌的觀(guān)察和分析，當然，還可以進(jìn)行微區的成分分析等其他方面的應用。表面分析是指對材料的表面特性和表面現象進(jìn)行觀(guān)察分析、測量的方法和技術(shù)，是掃描電鏡基本、普遍的用途。通常用二次電子成像，來(lái)觀(guān)察樣品表面的微觀(guān)結構、化學(xué)組成等情況。原子序數襯度是利用對樣品表層微區原子序數或化學(xué)成分變化敏感的物理信號，如背散射電子、吸收電子等作為調制信號而形成的一種能反映微區化學(xué)成分...

臺式電鏡SEM是一個(gè)相對年輕且發(fā)展迅速的產(chǎn)品。其實(shí)許多應用領(lǐng)域并不需要使用低于1nm的高分辨率掃描電鏡（SEM），10nm的分辨率是綽綽有余的。然而，由于材料特征點(diǎn)尺寸越來(lái)越小和觀(guān)測需求的增加，而且它的放大倍數可高達130,000倍。此類(lèi)新型儀器的出現*光學(xué)顯微鏡與傳統大型掃描電子顯微鏡之間的空白區域，可廣泛應用于材料科學(xué)、納米顆粒、生物醫學(xué)、食品藥品、紡織纖維、地質(zhì)科學(xué)等諸多領(lǐng)域。臺式電鏡SEM的樣品制備方法：1.佩戴無(wú)粉手套，使用鑷子把丁型樣品臺放置在制樣臺上（嚴禁在樣品...