一、光譜分析技術(shù)的基礎理論1.光是由光量子組成的，具有二重性，即不連續的微粒和連續的波動(dòng)性。波長(cháng)和頻率是光的特征2.光照射到物質(zhì)時(shí)，可發(fā)生折射、反射和透射。根據物質(zhì)結構和含量的不同，可以得當不同的吸收光譜和發(fā)射光譜。3.物質(zhì)的吸收光譜取決于物質(zhì)的結構，包括分子吸收光譜和原子吸收光譜。分子吸收光譜包括電子、振動(dòng)和轉動(dòng)這三種光譜。原子吸收光譜通常是線(xiàn)狀光譜，只包括外層電子躍遷吸收的能量，位于光譜的紫外區和可見(jiàn)光區。4.物質(zhì)的發(fā)射光譜有三種：線(xiàn)狀光譜、帶狀光譜及連續光譜。線(xiàn)狀光譜由...

由于鎢燈絲電鏡相對透射電鏡來(lái)說(shuō)真空度低、電子束流大。因此鎢燈絲電鏡的燈絲壽命仍相對較短，一般只有幾十個(gè)小時(shí)。燈絲壽命短直接帶來(lái)儀器運行成本增加、有效運行時(shí)間降低、污染增加，儀器性能降低等等不良后果。實(shí)際工作中應通過(guò)采取一些措施可延長(cháng)燈絲使用壽命：1.準確對中燈絲安裝更換新燈絲時(shí)仍需檢查燈絲的對中情況，將安裝好的燈絲組件放在解剖鏡下再檢查一下，看燈絲是否居中，否則很容易導致燈絲亮度偏暗，而由此操作者又會(huì )增加偏壓或電流來(lái)提高亮度，損傷燈絲。2.適當增加燈絲高度燈絲工作時(shí)發(fā)射電子束...

實(shí)際使用中，傅立葉變換拉曼可以很好地用于常規分析中，但在日常測量中也存在很多限制：只能使用1064nm近紅外激光，帶來(lái)的缺點(diǎn)是：低靈敏度、不適合測量水溶液、不適合測量深色樣品。光學(xué)設計限制了能夠達到的空間分辨率（這也是多數傅立葉變換拉曼光譜儀制造商不使用傅立葉變換拉曼顯微鏡的原因。色散型拉曼系統的優(yōu)勢在于在同一臺儀器上既可以進(jìn)行常規的分析，又具有進(jìn)行科學(xué)研究的能力，包括:多個(gè)激光波長(cháng)：可以根據多種樣品的具體情況以及散射性質(zhì)選擇優(yōu)化方案，從而實(shí)現增強靈敏度、控制穿透深度、抑制熒...

鎢燈絲掃描電鏡作為微觀(guān)形貌觀(guān)察的有力工具，正越來(lái)越迅速、廣泛地應用于冶金、礦物、化工、醫藥、生物、食品、納米材料等領(lǐng)域。作為常規的大型精密分析儀器，鎢燈絲掃描電鏡的燈絲壽命仍相對較短，燈絲壽命短直接帶來(lái)掃描電鏡運行成本增加、有效運行時(shí)間降低、污染增加，掃描電鏡性能降低等等不良后果。在實(shí)際工作中，使用者可以通過(guò)以下措施來(lái)延長(cháng)燈絲使用壽命。①新燈絲的表面可能吸附一定量的空氣、水汽，當它被安裝到電鏡鏡筒里時(shí)，會(huì )從燈絲表面緩緩釋放，影響鏡筒的真空度，腐蝕燈絲。因此，新燈絲在更換前要先...

掃描電子顯微鏡(簡(jiǎn)稱(chēng)掃描電鏡)是一種大型精密儀器，主要結構包括電子光學(xué)系統、信號收集、圖像顯示和記錄系統、真空系統，是機械學(xué)、光學(xué)、電子學(xué)、熱學(xué)、材料學(xué)、真空技術(shù)等多門(mén)學(xué)科的綜合應用。掃描電鏡是一種新型的電子光學(xué)儀器，主要是利用二次電子信號成像來(lái)觀(guān)察樣品的表面形態(tài)，即用極狹窄的電子束去掃描樣品，通過(guò)電子束與樣品的相互作用產(chǎn)生各種效應，其中主要是樣品的二次電子發(fā)射。二次電子能夠產(chǎn)生樣品表面放大的形貌像，這個(gè)像是在樣品被掃描時(shí)按時(shí)序建立起來(lái)的，即使用逐點(diǎn)成像的方法獲得放大像。掃描...

高光譜遙感圖像和常見(jiàn)的二維圖像不同之處在于，它在二維圖像信息的基礎上添加光譜維，進(jìn)而形成三維的坐標空間。如果把成像光譜圖像的每個(gè)波段數據都看成是一個(gè)層面，將成像光譜數據整體表達到該坐標空間，就會(huì )形成一個(gè)擁有多個(gè)層面、按波段順序疊合構成的三維數據立方體。高光譜遙感具有不同于傳統遙感的新特點(diǎn)：（1）波段多——可以為每個(gè)像元提供幾十、數百甚至上千個(gè)波段（2）光譜范圍窄——波段范圍一般小于10nm（3）波段連續——有些傳感器可以再350~2500nm的太陽(yáng)光譜范圍內提供幾乎連續的地物...

X射線(xiàn)衍射儀XRD是利用X射線(xiàn)在晶體物質(zhì)中的衍射效應進(jìn)行物質(zhì)結構分析的技術(shù)。每一種結晶物質(zhì)，都有其特定的晶體結構，包括點(diǎn)陣類(lèi)型、晶面間距等參數，用具有足夠能量的X射線(xiàn)照射試樣，試樣中的物質(zhì)受激發(fā)，會(huì )產(chǎn)生二次熒光X射線(xiàn)（標識X射線(xiàn)），晶體的晶面反射遵循布拉格定律。通過(guò)測定衍射角位置（峰位）可以進(jìn)行化合物的定性分析，測定譜線(xiàn)的積分強度（峰強度）可以進(jìn)行定量分析，而測定譜線(xiàn)強度隨角度的變化關(guān)系可進(jìn)行晶粒的大小和形狀的檢測。X射線(xiàn)同無(wú)線(xiàn)電波、可見(jiàn)光、紫外線(xiàn)等一樣，本質(zhì)上都屬于電磁波，...